Система анализа слоев POLYsee 9000

Система анализа слоев Polysee 9000, была разработана для анализа толщины слоев в многослойных системах. Эти системы успешно используют производители многослойной упаковки, производители многослойных труб, производители многослойных материалов.
Особенное полезными такие системы могут оказаться для производителей поликарбонатных изделий. Для защиты поликарбонатного листа от солнца, наносится тонкий слой УФ фильтра. И контроль толщины слоя очень важный параметр.
Система анализа толщины слоев POLYsee 9000, обеспечивает жесткий контроль за каждым нанесенным слоем, обеспечивая превосходное качество выпускаемой продукции.
Основу системы составляет микроскоп со встроенной видеокамерой. Образец помещается на специальный столик. В зависимости от потребностей, образец может подсвечиваться разными источниками света (например УФ светом). Разный спектр применяется для того что бы выявить какой лучше подходит для подсветки конкретного слоя. Далее изображение фиксируется камерой и поступает для последующего компьютерного анализа.
 

Спецификация:
Толщина образца: от 30 до 1000 микрон
Увеличение: переменное от 150 до 750 крат
Разрешение: 150 крат - 2 микрона, 750 крат - 0,6 микрона
Источник света: Рефлективный, рефрактивный, УФ. Регулировка интенсивности света.